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韩国无损检测学会专家团访问爱德森

   

——2014年6月20日 赵诚 报道

  2014年6月19日上午,由韩国无损检测学会两位副理事长及秘书长组成的专家团到访爱德森(厦门)电子有限公司。到访的专家有,汉阳大学Jhang,Kyung-Young教授、首尔科学技术大学 IK Keun Park教授及韩国技术教育大学Nohyu Kim教授等。爱德森(厦门)电子有限公司总经理林俊明研究员热情接待了来访的嘉宾,为专家介绍了我国电磁和集成无损检测技术发展现状及爱德森在电磁及声学无损检测技术研究开发中取得的最新成果。
  韩国无损检测专家高度评价了爱德森的无损检测设备产品,特别是爱德森的NDT集成检测设备,认为这一无损检测技术整合创新将大大提高其应用方便性与信息完整性。期间,宾主还饶有兴趣地对两国的历史文化,特别是茶道与书法进行了交流。
 
韩国无损检测学会专家团合影
 
专家团参观爱德森无损检测设备
 
专家团参观爱德森无损检测样品展示

  

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