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首页 > 新闻资讯 > 可变阵列涡流检测仪( VAECT )问世
   

可变阵列涡流检测仪(VAECT)问世

   

2012年08月01日  赵诚 报道

   2012年7月,由爱德森(厦门)电子有限公司独创的世界首台可变阵列涡流检测仪(Various array eddy current testing 简称变阵涡流)问世,仪器具有独创的128通道任意激励/接收变换扫描功能,可根据检测要求随意设置变换扫描法则,可以快速精确检测出任意方向缺陷,单元检测最高精度达到20μm,大大超过了此前业界的30μm极限精度。该功能可进一步扩展至漏磁和磁记忆、声阻抗的点、线、面阵列调控。
    这一独创的功能改变了目前业界较为单一的阵列涡流扫描功能,使阵列涡流具有了同超声相控阵一样的可变、多样、多重,形成点、线、面的多频扫描能力,通过变频手段,改变涡流在金属表面的趋肤深度,检测范围、速度、精度都得到了进一步的提高。该功能具有自主知识产权,功能定义也将写入相关国家标准中。

附?可变阵列涡流检测术语定义:
可变阵列涡流 various array eddy current
可任意改变点、线、面阵列涡流探头中各阵元线圈激励 / 接收处理方式的一种检测技术。
可变阵列涡流扫描法则 various array eddy current scanning laws

    可变阵列涡流检测独有的激励扫描法则。即采用电子切换技术,根据检测要求,控制、改变阵列涡流探头中每个阵元的激励频率、强度、顺序以及滤波参数等。
 

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